測試探針的材質(zhì)和分類

　　測試探針的材質(zhì)有W，ReW,CU、 A+

　　1.探針主要采用的材質(zhì)為W，ReW, 彈性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨損損針長，壽命一般。

　　2. A+材質(zhì)的免清針，這種材質(zhì)彈性較好，測試中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此壽命較長。

　　懸臂探針：劈刀型(Blade Type)和環(huán)氧樹脂型(Epoxy Type) 垂直探針：垂直型(Vertical Type)

　　1.ICT探針　(ICT series Probes) 一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，有業(yè)內(nèi)的標準稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測試和功能測試.也稱ICT測試和FCT測試.也是目應用較多的一種探針.

　　2.界面探針(Interface Probes) 非標準的探針，一般是為少數(shù)做大型測試機臺的客戶定做的，例如泰瑞達(Teradyne)和安捷倫(Agilent).用于測試機臺與測試夾具的接觸點和面.

　　3.微型探針(MicroSeries Probes) 兩個測試點中心間距一般為0.25mm至0.76mm.

　　4.開關(guān)探針(Switch Probes) 開關(guān)探針單獨一支探針有兩路電流.

　　5.高頻探針(Coaxial Probes) 用于測試高頻信號，有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的.

　　6.旋轉(zhuǎn)探針(Rotator Probes) 彈力一般不高，因為其穿透性本來就很強，一般用于OSP處理過的PCBA測試.

　　7.高電流探針(High Current Probes) 探針直徑在2.54mm-4.75mm之間.最大的測試電流可達39amps.

　　8.半導體探針 (Semiconductor Probes) 直徑一般在0.50mm-1.27mm之間.帶寬大于10GHz,50Ω characteristic

　　9.電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts) 一般用于優(yōu)化接觸效果，穩(wěn)定性好和壽命長.

　　10.汽車線束測試測試探針 專業(yè)用于汽車線束通斷檢測，直徑在1.0--3.5mm之間，電流在3----50A 除以上類型外還有溫度探針，Kelvin探針等，比較少用.

　　深圳市華榮華電子科技有限公司探針采用日本高精度CNC車床車削成形，經(jīng)過精密的鍍層、硬度、壽命測試、產(chǎn)品品質(zhì)已與歐、美、日、等一些知名產(chǎn)品相當。同時還提供德國INGUN、美國QA、臺灣CCP等名牌探針。