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? 測試探針多長時間需要更換呢？
測試探針的更換周期并不是一個固定的數值，它受到多種因素的影響，以下是一些主要的影響因素：
1. 使用環境：
測試探針的使用壽命會受到其使用環境的影響，如果測試環境中存在雜質、灰塵或其他污染物，這些物質可能會進入探針內管，對探針的彈簧和其他部件造成損壞，從而縮短探針的使用壽命。
2. 溫度條件：
測試探針的溫度條件也是影響其壽命的重要因素，高溫或低溫環境都可能對探針的材料和性能產生不利影響，導致探針提前失效。
3. 安裝方式：
探針的安裝方式也會對其使用壽命產生影響，如果安裝不當，可能會導致探針受力不均，增加磨損和損壞的風險。
4. 使用頻率：
探針的使用頻率是決定其更換周期的關鍵因素之一，使用頻率越高，探針的磨損就越快，需要更頻繁地更換。
綜上所述，測試探針的更換周期是一個相對靈活的概念，需要根據具體的使用情況來判斷。為了確保測試的準確性和可靠性，建議定期檢查探針的狀態，并根據需要進行更換，同時，在使用探針時，也應注意保持測試環境的清潔和干燥，避免探針受到不必要的損害。
探針是電測試的接觸媒介，為高端精密型電子五金元器件。 根據中研普華研究院《2022-2027年中國探針市場深度分析及投資策略報告》顯示： 全球探針市場份額占比分析 據GIR (Global Info Research)調研，按收入計，2021年全球垂直MEMS探針卡收入大約1263.4百萬美元，預計2028年達到2219.6百萬美元，2022至2028期間，年復合增長率CAGR為 8.4%。 全球垂直MEMS探針卡(Vertical MEMS Probe Cards)核心廠商包括FormFactor、Technoprobe S.p.A.、Micronics Japan(MJC)、Japan Electronic Materials(JEM)和MPI Corporation等，前五大廠
2024-05-01
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